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Titelaufnahme
Titel
Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
Autor
Spaeth, Johann-Martin
Enthalten in
International Conference on Defects in Semiconductors : Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. (Materials Science Forum 10-12)
, Paris, 1986, S. 505-514
Entstehung
2009
Sprache
Englisch
Dokumenttyp
Aufsatz in einem Sammelwerk
URN
urn:nbn:de:hbz:466:2-6291
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Nachweis
Universitätsbibliothek Paderborn
IIIF
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Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
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